18/10/11

Un xip permet detectar fins a 150 malalties congènites greus durant l'embaràs

 La ciència avança en el camí per detectar futures patologies greus en els fetus. Ara comença a estendre's una nova tècnica, un xip que analitza l'ADN del fetus que permet detectar fins a 150 malalties congènites greus durant l'embaràs. La prova costa uns 600 euros i es preveu que en el futur substituirà l'amniocentesi convencional.
Ja fa uns quants anys que els anomenats xips d'ADN es van començar a fer servir per detectar malalties congènites durant l'embaràs, i a poc a poc se n'està estenent l'ús.  Ara un estudi acabat de publicar evidencia que aquesta tècnica detecta moltes més mutacions que les que es fan servir habitualment des de fa tres dècades, el cariotip combinat amb la polimerasa fluorescent.  Amb els xips d'ADN es poden detectar fins a 150 malalties congènites greus. En aquest sentit, el director de QGenomics, Lluís Armengol, ha explicat: "De totes les tecnologies, els xips d'ADN ara mateix són els que et donen més informació i els que tenen una taxa de detecció d'alteracions i de malalties més elevada".


Aquesta tècnica no estalvia l'amniocentesi, perquè sempre cal obtenir material genètic del fetus.  A més, tot i les expectatives que obre, de moment no hi ha el consens científic necessari perquè substitueixi les tècniques convencionals.


Els responsables de salut pública creuen que les diferents tècniques encara conviuran durant anys, perquè els xips també detecten alteracions genètiques que no sempre comporten malalties greus.


El preu dels xips d'ADN també és un obstacle: de moment costen més del doble que les proves convencionals, entre 400 i 600 euros.


www.laprensamagazine.cat

No hay comentarios:

Publicar un comentario